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                    高頻LCR測試儀原理

                    高頻LCR測試儀原理
                      Vx與Vr均是矢量電壓表,Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是:當DUT(Device Under Test)接入電路時,放大器的負反饋配置自動使得OP輸入端虛地。Vx準確測定DUT兩端電壓(DUT的Low電位是0),Vr與Rr測得DUT電流Ix,由此可計算Zx。
                      高頻LCR測試儀HP4275的測試端Hp,Hc,Lp,Lc(下標c代表current, 下標p代表Potentail),Guard(接地)的配置可導致測試的誤差的差異。
                      高頻LCR測試儀提高精度的方法是: 1,Hp,Lp,Hc,Lc盡量接近DUT; 2,減小測試電流Ix的回路面積&磁通量(關鍵是分析Ix,要配合使用Guard與Cable*小化回路面積);3,使用Gurard與Cable構建地平面中斷信號線間的電場連接,雖然會增加信號線的對地電容(對地電容不影響測試結果),但是會減少信號線的互容。
                      Guard與Cable的對地寄生阻抗(Zhg,Zlg) 不影響測試結果,電橋平衡時Zlg的兩端電壓是0,流向Rr的電流不會被Zlg分流,Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測量。
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